光谱干涉位移传感器

使用KEYENCE的光谱干涉位移传感器,可以用纳米级的分辨率测量绝对距离。有时也被称为光谱干涉仪,这些专门的传感器在各种行业中被用来精确测量距离、位置和厚度。

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阵容

SI-F系列微头光谱干涉激光位移仪

介绍世界上第一个微头,具有最高的测量精度和水平的性能,这是以前认为不可能的。

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SI-F80R系列光谱干涉晶圆片测厚仪

采用近红外SLD,即使在BG胶带粘贴的情况下,也可以单独测量晶圆片的厚度。即使在晶圆表面有很强的基于模式的变化,精确的在线测量也是可能的。

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