轴突的观察
捕捉清晰的图像没有荧光模糊
由于荧光模糊的强烈影响，轴突可能是较难观察的类型之一的标本。
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正常的观察
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切片观察
物镜:CFI60 CFI计划Apo λ 60x
切片+ Z-stack
三维图像结构
在不同的焦平面上捕获图像后，这些图像可以组合在一起，并在3D中显示，只需一次点击。
然后，用户可以旋转、放大或缩小，并分析3D图像的横截面，以确定荧光信号的定位。
- 使用全功能荧光显微镜BZ-X800
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- 切片功能使消除荧光模糊和捕捉清晰图像成为可能。
- 内置的Z-stack功能可以在不同的焦点位置捕捉多个图像，并能够通过组合聚焦最锐的区域来创建一个完全聚焦的图像。
- 在获取每个高度的焦点数据后，通过结合使用的Z-pitch，可以创建高分辨率的3D图像。这不仅有助于更好地了解轴突的三维结构，也有助于更好地了解轴突的定位。
