不受材料和形状影响的精确扫描

  • 准确测量陡峭的斜坡和倾斜的表面
  • 一流的XY分辨率确保了即使是最小的功能都被捕获
  • 在透明或高反射表面没有数据丢失

高分辨率彩色观测捕捉到真实的图像

  • 材料的纹理，形状和其他表面条件清楚显示
  • 彩色图像可以立即确定要测量的位置
  • 高达28800x的高倍成像提供了额外的分析能力

292种不同的测量工具允许无与伦比的表面分析

一个系统可以实现从轮廓测量到粗糙度表征的各种分析

测量平整和不平整的表面

毫米,测微计,在一个设备中进行纳米测量

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